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日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪,HIOKI3535LCR测试仪


如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪,HIOKI3535LCR测试仪
产品型号: 日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪
产品展商: 深圳市君达仪器有限公司
简单介绍
日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪HIOKI 3535LCR测试仪是高速LCR仪,采样率可高至120MHz,HIOKI3535LCR测试仪宽频带100kHz~120MHz,HIOKI3535LCR测试仪采样高速可到6ms/采样,3535LCR测试仪拆卸式前置放大器可选择,3535 LCR测试仪为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪,HIOKI3535LCR测试仪

的详细介绍

日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪

HIOKI3535LCR测试仪是高速LCR仪,采样率可高至120MHz,HIOKI3535LCR测试仪宽频带100kHz~120MHz,HIOKI3535LCR测试仪采样高速可到6ms/采样,3535LCR测试仪拆卸式前置放大器可选择,3535 LCR测试仪为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

3535 LCR测试仪基本参数
测量参数|Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
前置放大器
决定的测量量程
前置放大器9700-019700-029700-03
Z和R100mΩ~1kΩ500Ω~10kΩ5kΩ~100kΩ
C1.33pF~15.9μF0.133pF~3.18nF0.1pF~318pF
L1nH~1.59mH663nH~15.9mH6.63μH~159mH
θ-180.00°~180.00°
测量频率
量程100kHz~120MHz
分辨率设置4位(使用前控制板设置)
100.0kHz~1.000MHz100Hz幅度
1.000MHz~10.00MHz1kHz幅度
10.00MHz~100.0MHz10kHz幅度
100.0MHz~120.0MHz100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时,分辨率为1Hz。
精度最大±0.005%,相对于设置值
测量电平
开路接口电压(V)
和恒压(CV)模式
5mV~1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV~500mV,最大10mA(10.01MHz以上)
分辨率1mV幅度
精度±(5%+5mV)×(2+log f)(f为MHz数)
恒流(CC)模式200μA~20mA,最大1V(10.00MHz以下)
200μA~10mA,最大0.5V(10.01MHz以上)
分辨率10A幅度
精度±(10%+50μA)×(2+log f)(f为MHz数)
基本精度Z:± 0.5%rdg. θ:± 0.3°
输出阻抗50Ω±10Ω(100kHz时)
监视电压 0.000V~1.000V
电流 0.000mA~20.0mA
限制电压(设置为CC) 0.005V~1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA~20.00mA
平均关,2,4,8,16,32,64
触发内置触发器,外置触发器
触发延时 0.01s~9.99s;0.01s分辨率
比较可得到两组测量参数:百分比,△%,或绝对值设置(△%即显示测量值与标准值的偏差)
控制盘存储和调用最多30组
屏幕显示测量值和比较器的判断结果
显示线数可设置成3,4,或5;根据参数可能有所不同
打印拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
操作环境10~40°C,最大80%rh,无凝结
仓储环境-10~55°C,最大80%rh,无凝结
供电电源交流100V~240V,50/60Hz,约50VA
体积及重量约360宽×130高×360厚(mm);8.3kg




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