产品名称：X-Strata920 X射线镀层测厚仪

序号

项目

内容

1

测量方向

（射线照射方向）

从上往下，即使样品表面有一定的幅度或不平整等情况也可轻易对焦

2

外形尺寸

宽x深x高[mm]： 约407 x 770 x 400 mm（不含电脑等）

3

井深式样品台

“井深式”样品仓设计，可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ，可放置样品*大高度为150mm 。样品台支架可放置在“深井”中的4个位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量。 样品台支架放置在标准位置（*上层）时，就是“开槽式样品仓”，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板或小型的连接器，接插件样品。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。 Z轴自动控制（Z向行程：43mm）

样品仓内部尺寸：236 x 430 x 160mm  (宽x深x高)

4

X射线源

超薄Be窗微聚焦W阳极靶射线管

产生高通量X射线，经过准直器，得到细束X射线。 这个“聚焦X射线束”可对小样品或者样品上小测试点进行高精度的分析。

5

高压发生器

50 kV, 1.0 mA (50 W) 高压发生器，高压多档可调

6

二次滤光片

钴二次滤光片，用于准确校正铜镍之间的相互干扰，合适镍层的**测量。

7

准直器

0.3 mm Ø圆形准直器，*小测量点是直径约0.5mm的圆形，适合大多数类型的样品。

8

X射线接收器

（探测器）

高分辨率、大面积、封氙气的正比例计数器（PC）

结合二次滤波器来*大化灵敏度，以获得*佳元素检测

9

数字脉冲处理器

4096 通道（CH）数字多道处理器

含死时间校正和脉冲累积消除功能的自动信号处理

10

视屏系统

彩色CCD，30倍光学放大， 200%、300%和400%数字放大。样品分析区域在用户界面显示，清晰、易用。

11

Z轴自动对焦系统

镭射用于Z轴自动**定位X射线光管/检测器与被测样品到*佳测试距离。 “一键操作”将Z轴测试头移动到*佳位置，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上）。

自动而简单的操作提高仪器测试的再现性，并将人为测量误差降到*低。 

注：*佳测试距离为12.7mm，由X射线测试头自动调节高度（Z轴）。

12

电源

85~130 或 215~265 伏特，频率范围47Hz到63Hz

13

能耗

小于1000W

14

工作温度

10°C至40°C

15

空气相对湿度

相对湿度≤ 98 %, 无冷凝水

16

计算机

CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz

硬盘： 500Gb，内存：2Gb，DVDRW

注：由于计算机系统更新快速，实际配置等同或优于上述规格。

17

操作系统

MicrosoftTM Windows

序号

项目

内容

18

可测量的镀层

元素范围

元素周期表中22号钛元素到92号铀元素

19

可测量的镀层层数

*多可同时测量4层（不含基材）

20

可测镀层厚度范围

通常约0.03微米到30微米，根据不同镀层元素和镀层结构不同而不同。

21

典型准确性

**层（*表面层）：±0.025微米或±5%以较大者计，或更好；

**次（次表面层）：±0.050微米或±10%以较大者计，或更好；

第三层           ：         ±0.075微米或±15%以较大者计，或更好；

（按操作规程，采用0.3mm准直器，对随仪器配置的标准片进行连续10次测量，测量平均值与标准片标称值之间的差异作为准确性数据）