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FT-341 四探针方阻测试仪
采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计参考国标单晶硅物理测试方法及 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.
FT-341 四探针方阻测试仪应用
覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择.
规格型号 |
FT-341 |
1.方块电阻 |
10^-5~2×10^5Ω/□ |
2.电阻率 |
10^-6~2×10^6Ω-cm |
3.测试电流 |
0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA |
4.电流精度 |
±0.1% |
5.电阻精度 |
≤0.3% |
6.显示读数 |
屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 |
7.测试方式 |
双电测量 |
8.电源 |
输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W |
9.误差 |
≤3%(标准样片结果) |
10.选购功能 |
选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻. |
11.测试探头 |
探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针 |
12.标准电阻(选购) |
规格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
FT-341 四探针方阻测试仪配置
序号 |
型号 |
品名 |
单位 |
数量 |
备注 |
1 |
340-CSX |
测试线 |
套 |
1 |
|
2 |
09A |
标准电阻 |
个 |
1-5 |
选购规格和数量 |
3 |
06A |
四探针测试平台 |
套 |
1 |
含探头1个 |
4 |
06B |
四探针探头 |
个 |
1 |
方型或直线型选购 |
5 |
340-TTZ |
镀金弹簧铜针4根 |
组 |
1 |
4根为一组 |
6 |
340-WTZ |
弹簧钨针4根 |
组 |
1 |
4根为一组 |
7 |
340-RJ |
分析软件 |
套 |
1 |
|
8 |
PC |
电脑+打印机 |
套 |
1 |
依据客户要求配置 |
9 |
300-JL |
检测技术服务 |
份 |
1 |
计量证书1份 |
10 |
WDCGQ |
温度传感器 |
套 |
1 |
常温-125度 |
|
341-YB |
延保服务 |
年 |
1-3 |
|