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olympus 45MG双晶腐蚀测厚**厚度测量
olympus 45MG双晶腐蚀测厚**厚度测量坚固耐用，设计符合IP67标准,彩色透反QVGA显示,45MG超声测厚仪：操作简便、坚固耐用、性能可靠,45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的**超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的**型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
坚固耐用，设计符合IP67标准。
爆炸性气氛测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。
撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
宽泛的操作温度范围
可选购带有支架的橡胶保护套
室内色彩设计模式下的A扫描显示
室内显示设置，可选A扫描模式
仪器设计，便于操作
简洁的键区，只用单手（左手或右手）即可操控仪器
浏览方便的用户界面，可直接访问大多数功能
内置microSD存储卡和可插拔microSD存储卡的存储方式
USB通信端口
可选字母数字式数据记录器，可存储475000个厚度读数或20000个波形
默认或自定义单晶探头设置（可选购）
通过密码保护方式锁定仪器
彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有很高的清晰度
回波到回波/穿透涂层（THRU-COAT）：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，两种厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面上的漆层或涂层。
单晶：这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常**的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描：用户使用这个可选配实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中大幅增强测量性能。这个有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、头个回波空白、范围及延迟等参数。
使用单晶探头
使用单晶探头可以准确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供多种频率、直径和连接器样式的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。
在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。
高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料
测量厚度、声速或渡越时间
自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作
正在检测轴承的Sonopen探头
单晶软件选项
使用单晶软件选项可以完成分辨率高达0.001毫米的**厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。可测量以下材料和产品：
大多数薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管子、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米的金属容器、钢卷材、机加工部件
汽缸孔、涡轮叶片
玻璃灯泡、瓶子
薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
曲面部位或内圆角半径较小的容器
单晶高穿透软件选项
用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。
大多数较厚或声波衰减性较强的材料
厚金属铸件
厚橡胶轮胎、履带
玻璃纤维船体、储罐
复合材料板
对于频率范围为0.5 MH到1.0 MHz的探头，分辨率为0.01毫米
