Nikon 尼康 MF‑501数显高度计

Nikon 尼康 MF‑501数显高度计

尼康 DIGIMICRO MF‑501 数显高度计测量头，日本原装进口接触式精密测高系统，测量行程 0‑50mm，可搭配 MFC‑200、TC‑200 两款显示器使用，实现 0.1μm / 0.01μm 双档分辨率切换，20℃标准环境精度可达 1μm。

整机结构紧凑，测量响应速度可达 500mm/s，重复测量稳定性优异；搭配 MS‑12C 铸铁测量台，实现高度、段差、厚度、深度、微小位移微米级检测。广泛用于工厂质检、实验室、半导体、精密五金、模具治具尺寸检测，支持 RS‑232C 数据输出，可对接系统采集测量数据。

Nikon 尼康 MF‑501数显高度计产品核心优势

✅ 双分辨率自由选配
搭配 MFC‑200 显示器，*小读数值 0.1μm；搭配 TC‑200 计数器，*小读数值 0.01μm，满足不同精度等级测量需求。
✅ 稳定可靠测量性能
0‑50mm 有效测量行程，20℃精度 1μm；高响应速度 500mm/s，高速测量不丢数；测量力稳定，可适配多种材质工件检测.。
✅ 丰富测针可选
支持标准测针、尖测针、塑料测针、偏心测针、平底测针、滚轮测针，针对软质、薄片、曲面工件可更换对应测头，减少压伤工件风险。
✅ 模块化自由组合
MF‑501 测量头、显示器、测量台分开选型，可搭配 MS‑12C/MS‑22S 等多款测量台；支持外接数据输出，适配产线自动化、实验室数据记录。
✅ 原装日本制造
尼康 Digimicro 系列，工业级耐用结构，适应工厂车间、实验室常规工况，环境适应性强。

Nikon 尼康 MF‑501数显高度计技术参数

Nikon 尼康 MF‑501数显高度计典型应用场景

精密机加工行业
五金零件高度、台阶差、厚度、深度尺寸检测，来料检验、成品全检。
半导体 & 电子元器件
芯片、FPC、连接器、塑胶小件微小段差、薄件厚度测量。
模具与治具检测
模具镶件、工装治具高度比对，样品打样尺寸校验。
实验室科研检测
材料形变、薄片样品、微小工件高精度尺寸测量，数据采集记录。
品质质检部门
实验室基准比对，第三方检测，计量室日常校验测量。

Nikon 尼康 MF‑501数显高度计套装选配说明

客户可按需选择整套或者单独采购测量头
套装 A：MF‑501+MFC‑200+MS‑12C
0.1μm 分辨率，性价比优选，工厂质检常规测量。
套装 B：MF‑501+TC‑200+MS‑12C
0.01μm 超高分辨率，对精度要求高的实验室、半导体检测。
单品采购：MF‑501 测量头
已有 MFC‑200/TC‑200 显示器，仅补充测量头。
提示：测针为消耗配件，可按需单独订购不同规格测针。

Nikon 尼康 MF‑501数显高度计标准包装清单

MF‑501 测量头 ×1
配套显示器（MFC‑200 或 TC‑200，按选配）×1
MS‑12C 测量台（按选配）×1
连接信号线
标准测针 1 支
原装说明书

Nikon 尼康 MF‑501数显高度计使用注意事项

尽量在 20℃左右恒温环境下使用，保证设备标称测量精度；
测针属于易损耗件，测量硬物避免大力撞击，防止测头变形；
铸铁测量台台面保持清洁，避免磕碰划伤基准平面；
设备避免粉尘、油污大量堆积，定期做清洁维护。