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金属涂层测厚仪的发展

日期:2024-03-29 19:44
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摘要:
 
  金属涂层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确的要求。
  涂层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄涂层、双涂层、合金涂层。β射线法适合涂层和底材原子序号大于3的涂层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘涂层测厚时采用。
  近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的金属涂层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的金属涂层测厚仪器。




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