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膜厚仪的电涡流测量原理
日期:2025-05-01 21:17
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摘要:
膜厚仪的电涡流测量原理
膜厚仪,又叫膜厚计、膜厚测试仪,分为磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。 采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
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