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红外测温仪、涂层测厚仪、超声波测厚仪、声级计、测振仪、转速表、测温仪、风速仪、温湿度仪、粗糙度仪、硬度计、照度计,兆欧表等测试仪器。希尔思流量计。露点仪。
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简单介绍：
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜…等同类物质的薄层电阻。
详情介绍：
HP系列四探针探头
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜…等同类物质的薄层电阻。
HP-504型四探针探头
1;特制之手握式探笔
2;球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3;探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4;探头使用寿命长
5;探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
HP系列四探针探头
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型号 |
曲率半径 |
压力 |
探针间距 |
探针排列 |
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HP-501 |
0.5mm |
100g |
3.8mm |
直线 |
|
HP-502 |
0.75mm |
100g |
3.8mm |
直线 |
|
HP-503 |
0.1mm |
150g |
1mm |
直线 |
|
HP-504 |
0.5mm |
100g |
1.59mm |
直线 |
