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红外测温仪、涂层测厚仪、超声波测厚仪、声级计、测振仪、转速表、测温仪、风速仪、温湿度仪、粗糙度仪、硬度计、照度计,兆欧表等测试仪器。希尔思流量计。露点仪。

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产品详情
简单介绍:
日本日置IM3570 阻抗分析仪,IM3570 阻抗分析仪实现不同测量条件下的高速检查,IM3570 阻抗分析仪实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查,LCR模式下*快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
详情介绍:
日本日置IM3570 阻抗分析仪
IM3570 阻抗分析仪实现不同测量条件下的高速检查
IM3570 阻抗分析仪实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下*快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
IM3570 阻抗分析仪技术参数
测量模式 | LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量 |
测量参数 | Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
测量量程 | 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定) |
显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示**值 θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999) Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%) |
基本精度 | Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
测量频率 | 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进) |
测量信号电平 | V模式,CV模式(普通模式) 50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下) 10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上) CC模式(普通模式) 10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下) 10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上) |
输出阻抗 | 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω |
显示 | 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF |
测量时间 | 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值) |
测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
其他功能 | DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能 |
接口 | EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN |
电源 | AC90~264V,50/60Hz,*大150VA |
打印 | 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446) |
接口 | GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准) |
电源 | AC90~264V,50/60Hz,*大150VA |
体积和重量 | 330W×119H×307Dmm,5.8kg |
附件 | 电源线×1 |