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W-20韦氏硬度计检测方法[产品打印页面]

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产品名称: W-20韦氏硬度计检测方法
产品型号: W-20
产品展商: 深圳市君达时代仪器有限公司
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简单介绍

W-20韦氏硬度计检测方法,W-20韦氏硬度计检测方法原理,韦氏硬度计的基本原理是采用一定形状的淬火压针,在标准弹簧检测力作用下压入试样表面,定义0.0lmm的压入深度为一个韦氏硬度单位。材料的硬度与压入深度成反比。压入越浅硬度越高,压入越深硬度越低。


W-20韦氏硬度计检测方法  的详细介绍
W-20韦氏硬度计检测方法

韦氏硬度检测方法起源于美国,由美国Webster公司生产Webster B韦氏硬度计。韦氏硬度计早在20世纪80年代就随铝型材生产线的引进而进入我国。由于其使用上的特点,应用逐年增多,且国内已能生产品质优良的韦氏硬度计。现在已有韦氏硬度计计量检定规程“金属韦氏硬度计JJG944―1999(试行)”和有色金属行业标准《铝合金韦氏硬度试验方法》YS/T420—2000和YS/T471—2004《铜合金韦氏硬度试验方法》标准。但有关韦氏硬度的技术资料介绍较少。

W-20韦氏硬度计检测方法原理

韦氏硬度计的基本原理是采用一定形状的淬火压针,在标准弹簧检测力作用下压入试样表面,定义0.0lmm的压入深度为一个韦氏硬度单位。材料的硬度与压入深度成反比。压入越浅硬度越高,压入越深硬度越低。
韦氏硬度计计算公式
HW=20-L/0.01   (8—1)
式中: HW——韦氏硬度符号;
L——压针伸出长度,即压入试样深度/mm;
0.01——定义值/mm
硬度值的表示:如压针只压入深度0.05mm,表头指针将指示在15刻度。表示为HW=20-5=15单位硬度值,将其书写于硬度符号之前,即为15HW。
韦氏硬度计结构
W-20韦氏硬度计检测方法全貌见图1,

其结构见图8―2

Webster B韦氏硬度计

压针形状见图3

Webster B韦氏硬度计

如图所示,硬度计由以下三个主要部件组成:框架、手柄、压针组件。压针组件包括压针、负荷弹簧、调节螺母、压针套筒、复位键、复位弹簧、表头等。压下手柄时,压针组件作为一个整体移向砧座。

在压下手柄过程中,压金组件移向被测件,压针尖端首先与被测件接触。继续压紧手柄,会使压针一部分刺入被测件,另一部分向后退入压针套筒内,并与负荷弹簧的弹力相作用。

当压针套筒的端面与被测件相抵时,即可感到已触到底,此时表头指针将指到一个硬度读数,这就是被测件的硬度值。

硬度计的表头安装在压针套筒的上端,指针由压针的移动来驱动。对于特别硬的金属,压针将全部退入压针套筒,直至其尖端与压针套筒端面平齐。这是压针的蕞大行程位置,指针会指到20。对于特别软的金属,压针尖端将全部压入金属中,而不会向压针套筒内移动,这时表头指针将保持在蕞低位置不变。

韦氏硬度计技术参数见表

Webster B韦氏硬度计

韦氏硬度计校准
1.标准硬度片
1)韦氏硬度计应配备标准硬度片,用于校准。
2)标准硬度片的工作面应标明韦氏硬度值和E标尺的洛氏硬度值。
2.校准要求
1)硬度计的满刻度校准值为20HW,允许误差为±0.5HW。
2)用标准硬度片校准硬度计,读数应符合硬度片标明的硬度值,其允许误差±0.5HW。

W-20韦氏硬度计检测方法检测方法检测方法

1)将试样置于砧座和压针之间,压针应与检测面垂直,如图8—4所示。轻轻压下手柄,使压针压住试样。
  2)快速压住手柄,施加足够的力,使压针套筒的端面紧压在试样上,从表头读出硬度值(精确到0.5HW)。超出限度的压力下,会被弹簧平衡掉,不会损坏硬度计。
3)再次测量时两相邻压痕中心间距离应不小于6mm。
4)在测量较软金属时,表头指针会瞬间达到某一数值,随后可能会稍有下降,此时测量以观察到的蕞大值为准。
5)在一般情况下,每个试样至少测量3个点。以测量值的算数平均值作为试样硬度值,计算结果修约到0.5HW

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