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韦氏硬度检测方法起源于美国，由美国Webster公司生产Webster B韦氏硬度计。韦氏硬度计早在20世纪80年代就随铝型材生产线的引进而进入我国。由于其使用上的特点，应用逐年增多，且国内已能生产品质优良的韦氏硬度计。现在已有韦氏硬度计计量检定规程“金属韦氏硬度计JJG944―1999（试行）”和有色金属行业标准《铝合金韦氏硬度试验方法》YS/T420—2000和YS/T471—2004《铜合金韦氏硬度试验方法》标准。但有关韦氏硬度的技术资料介绍较少。
W-20韦氏硬度计检测方法原理
韦氏硬度计的基本原理是采用一定形状的淬火压针，在标准弹簧检测力作用下压入试样表面，定义0.0lmm的压入深度为一个韦氏硬度单位。材料的硬度与压入深度成反比。压入越浅硬度越高，压入越深硬度越低。
韦氏硬度计计算公式
HW=20-L/0.01 (8—1)
式中： HW——韦氏硬度符号；
L——压针伸出长度，即压入试样深度/mm；
0.01——定义值/mm
硬度值的表示：如压针只压入深度0.05mm，表头指针将指示在15刻度。表示为HW=20-5=15单位硬度值，将其书写于硬度符号之前，即为15HW。
韦氏硬度计结构
W-20韦氏硬度计检测方法全貌见图1，
其结构见图8―2，
压针形状见图3
如图所示，硬度计由以下三个主要部件组成：框架、手柄、压针组件。压针组件包括压针、负荷弹簧、调节螺母、压针套筒、复位键、复位弹簧、表头等。压下手柄时，压针组件作为一个整体移向砧座。
在压下手柄过程中，压金组件移向被测件，压针**首先与被测件接触。继续压紧手柄，会使压针一部分刺入被测件，另一部分向后退入压针套筒内，并与负荷弹簧的弹力相作用。
当压针套筒的端面与被测件相抵时，即可感到已触到底，此时表头指针将指到一个硬度读数，这就是被测件的硬度值。
硬度计的表头安装在压针套筒的上端，指针由压针的移动来驱动。对于特别硬的金属，压针将全部退入压针套筒，直至其**与压针套筒端面平齐。这是压针的*大行程位置，指针会指到20。对于特别软的金属，压针**将全部压入金属中，而不会向压针套筒内移动，这时表头指针将保持在*低位置不变。
韦氏硬度计技术参数见表
韦氏硬度计校准
1.标准硬度片
1）韦氏硬度计应配备标准硬度片，用于校准。
2）标准硬度片的工作面应标明韦氏硬度值和E标尺的洛氏硬度值。
2.校准要求
1）硬度计的满刻度校准值为20HW，允许误差为±0.5HW。
2）用标准硬度片校准硬度计，读数应符合硬度片标明的硬度值，其允许误差±0.5HW。
W-20韦氏硬度计检测方法检测方法检测方法
1）将试样置于砧座和压针之间，压针应与检测面垂直，如图8—4所示。轻轻压下手柄，使压针压住试样。
2）快速压住手柄，施加足够的力，使压针套筒的端面紧压在试样上，从表头读出硬度值（**到0.5HW）。超出限度的压力下，会被弹簧平衡掉，不会损坏硬度计。
3）再次测量时两相邻压痕中心间距离应不小于6mm。
4）在测量较软金属时，表头指针会瞬间达到某一数值，随后可能会稍有下降，此时测量以观察到的*大值为准。
5）在一般情况下，每个试样至少测量3个点。以测量值的算数平均值作为试样硬度值，计算结果修约到0.5HW
