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Panametrics 35、35DL、35HP和35DL-HP**超声测厚仪
Panametrics 35、35DL、35HP和35DL-HP**超声测厚仪为测量一侧难以或无法达到的材料的厚度，Panametrics 35系列**超声测厚仪提供了操作简便且性价比很高的解决方案。Panametrics 35系列**超声测厚仪这些坚固小巧的测厚仪可对大多数形状各异、尺寸不同的材料进行可重复且结果稳定的厚度测量。**的厚度测量值以大数字形式显示在带有背光的LCD屏上；在可选A扫描模式下厚度测量值与实时波形一同显示。
Panametrics 35系列**超声测厚仪实时A扫描（波形）和调整模式
厚度测量值还可由表现被测区域的厚度变化的B扫描横截面图像表示。这些性能完善的测厚仪包括很多以提供解决方案为目的的标准测量功能：应用自动调用功能可选择并调用存储于仪器内存中的任何标准的或自定义的探头设置；缩减率可计算并显示壁厚变薄的百分比；声速测量或渡越时间测量可直接测量材料的声速，除此之外，还有很多其它实用的测量性能。
Panametrics 35系列**超声测厚仪该系列超声测厚仪有4种型号：35型和35DL型测厚仪用于测量金属、塑料、玻璃和其它薄壁材料；35HP型和35DL-HP型测厚仪用于测量金属铸件、
厚橡胶、玻璃纤维和复合材料等具有高声速衰减性的材料。35DL型和35DL-HP型测厚仪较其它仪器增加了一个基于文件的通用型字母数字数据记录器，其文件格式为增量型、顺序型和2维栅格。
Panametrics 35系列**超声测厚仪特性
厚度、声速、渡越时间和缩减率
可选实时A扫描和调整模式
宽泛的厚度范围，可测量薄如0.08毫米（0.003英寸）的厚度
应用自动调用
基于文件的字母数字数据记录器
Panametrics 35型和35DL型**超声测厚仪
Panametrics 35型和35DL型**超声测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数对极薄到极厚材料的厚度测量。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。
Panametrics 35型和35DL型**超声测厚仪应用
• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米（0.0001英寸）
Panametrics 35HP型和35DL-HP型**超声测厚仪
Panametrics 35HP型和35DL-HP型**超声测厚仪用于测量具有声速衰减性的材料
Panametrics 35HP型和35DL-HP型**超声测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、具有高声速衰减性或高声速散播性的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下，大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。
Panametrics 35HP型和35DL-HP型**超声测厚仪应用
• 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料
• 厚金属铸件
• 厚橡胶轮胎、履带
• 玻璃纤维船体、储罐
• 复合材料板
• 分辨率为0.01毫米或0.001英寸
