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日本日置IM3570阻抗分析仪
日本日置IM3570阻抗分析仪1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
日本日置IM3570阻抗分析仪LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
日本日置IM3570阻抗分析仪
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测量模式 |
LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量 |
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测量参数 |
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
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测量量程 |
100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定） |
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显示范围 |
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示**值 |
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基本精度 |
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
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测量频率 |
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） |
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测量信号电平 |
V模式，CV模式（普通模式） |
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输出阻抗 |
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
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显示 |
彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF |
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测量时间 |
0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值） |
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测量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
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其他功能 |
DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能 |
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接口 |
EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN |
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电源 |
AC90~264V，50/60Hz，*大150VA |
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打印 |
拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） |
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接口 |
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) |
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电源 |
AC90~264V，50/60Hz，*大150VA |
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体积和重量 |
330W×119H×307Dmm，5.8kg |
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附件 |
电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1 |
